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测试项目

·光学显微镜观察与测量
·IV曲线量测
·X射线透视检查
·CT透视检查
·超声波扫描检查
·半导体器件开盖、取Die、去层
·弹坑试验
·EMMI/OBIRCH
·微探针点针服务
·SEM&EDS(表面形貌、成分检测)
·红墨水染色
·推拉力测试
·定点&非定点切片
·FTIR(异物检测、有机主成分检测)
·适用于各类材料、元器件、PCB及电路板的失效分析
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